Spectralon®白平衡和漫反射目標(biāo)板可用于各種工業(yè)、實驗室和現(xiàn)場應(yīng)用，包括成像系統(tǒng)的校準(zhǔn)、背光照明、激光目標(biāo)板、光學(xué)反射器、遙感和近距離傳感器。這些目標(biāo)板在整個 UV-VIS-NIR 波長 （350 - 1600nm） 范圍內(nèi)具有 99% 的反射率，并在整個校準(zhǔn)波長區(qū)域展現(xiàn)高反射率。

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更新日期：2023-12-20

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表面光潔度對照卡有30個對照樣品，規(guī)格為7/8“ x 3/8“，采用在基材上電鍍鎳層工藝，可迅速評估6種常見的機械加工表面光潔度，如叉表面、絞刀擴孔表面、磨削表面、以及冷扎表面等，對應(yīng)著公制Ra（微米級），英制為A*（micro-inches）。各種表面類型都是由我們的能工巧匠精心制作，精度在標(biāo)稱值的±10%之內(nèi)。

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更新日期：2023-12-20

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棋盤格校準(zhǔn)目標(biāo)板用于二維工業(yè)和機器視覺相機的校準(zhǔn)，用于檢測圖像畸變或傳感器問題，以保證測量精度。這些棋盤格目標(biāo)板采用堅硬的象牙色和乳白色玻璃基片，因此不會使圖案彎曲。這些棋盤格目標(biāo)板能*地降低背射陰影的影響，使它們成為具有廣泛視場的成像系統(tǒng)反射照明校準(zhǔn)的理想選擇。這些目標(biāo)板提供各種尺寸，以補充視場較大或較小的相機.

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更新日期：2023-12-20

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多功能高倍率校準(zhǔn)卡這種“集多功能于一身”的校準(zhǔn)卡可用來校準(zhǔn)顯微鏡和機器視覺系統(tǒng)的參數(shù)，而不需分別校正。本卡可用來測試和校準(zhǔn)Mitutoyo物鏡，Zeiss物鏡，以及高倍視頻鏡頭的分辨率，畸變，以及景深（DOF）等等。測試卡中包括各種頻率的蝕刻線，一組柵格和同心圓，一組微刻尺，以及邊緣撐塊來支撐 測量景深的卡。帶使用信息卡， 一盤CD（操作說明），以及NIST認證說明。

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更新日期：2023-12-19

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高分辨率顯微鏡載玻片靶采用高精度電子束光刻技術(shù)設(shè)計。這些圖案蝕刻在光譜透射范圍廣泛 （DUV-VIS-NIR） 的 10 × 10mm² 熔融石英基底上，在該襯底上施加高光密度的鉻層。通過去除鉻層，形成尺寸低 100nm 的圖案。本產(chǎn)品提供優(yōu)異的尺寸穩(wěn)定性，并安裝在金屬顯微鏡載玻片支架中。每個靶上的負片圖案允許結(jié)構(gòu)透明，而背景被鉻層阻擋。

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更新日期：2023-12-19

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12X 比較儀以及分劃板組件可用于檢測紙張質(zhì)量以及油墨吸收性能等，是從事校驗工作者的必選工具。本品底座采用透明材料，可直接放置于被檢物品之上近距離觀測。12X版本為凱涅爾光學(xué)結(jié)構(gòu)，由三片光學(xué)鏡片組成，具有消色差功能。本裝置帶鎖止結(jié)構(gòu)，調(diào)整好后可固定住調(diào)焦環(huán)。接觸式分劃板適配環(huán)位于底座處，可安裝所有直徑為12mm的分劃板。

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更新日期：2024-06-24

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